隨著科技的發(fā)展，近年來(lái)，薄膜的市場(chǎng)需求不斷增加。薄膜的厚度是產(chǎn)品的重要物理指標(biāo)之一，它直接影響產(chǎn)品的產(chǎn)量、質(zhì)量、經(jīng)濟(jì)效益和生產(chǎn)成本。薄膜厚度測(cè)量也是薄膜制造業(yè)的基本檢測(cè)項(xiàng)目之一。薄膜測(cè)厚儀采用顯微光譜法測(cè)量小范圍內(nèi)的反射率，可進(jìn)行高精度的膜厚/光學(xué)常數(shù)分析。

　　

　　涂膜的厚度可以采用無(wú)損、非接觸的方式進(jìn)行測(cè)量，如各種薄膜、晶片、光學(xué)材料和多層薄膜等。測(cè)量時(shí)間方面，可實(shí)現(xiàn)1秒/點(diǎn)的高速測(cè)量，配備的軟件即使是初次使用也能輕松分析光學(xué)常數(shù)。

　　
 

　　雖然薄膜測(cè)厚儀在使用中可以起到高精度的測(cè)厚作用，但這一切都需要建立在正確操作的條件下。如果操作方式錯(cuò)誤，后果很?chē)?yán)重。不僅不能保證測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，還會(huì)造成測(cè)厚儀的損壞，影響車(chē)身后期的測(cè)試性能。可見(jiàn)，正確使用膜厚儀很重要。

　　

　　不了解基礎(chǔ)參數(shù)，怎么能用好薄膜測(cè)厚儀？基本參數(shù)方面主要包括測(cè)量原理、測(cè)量范圍、測(cè)量誤差、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、統(tǒng)計(jì)值、最小曲率半徑、最小測(cè)量面積、最小基材厚度、被測(cè)物體材料重量、薄膜測(cè)厚儀尺寸、等等這些數(shù)據(jù)雖然在產(chǎn)品說(shuō)明書(shū)或者設(shè)備標(biāo)識(shí)板上都有展示，但是做好初步的基礎(chǔ)了解是非常有必要的。如果事先不知道，在正式操作中看，一般是趕不上的，但實(shí)際情況會(huì)很倉(cāng)促。以測(cè)量原理為例，需要針對(duì)不同的被測(cè)對(duì)象確定合適的測(cè)量原理，如磁感應(yīng)原理或渦流效應(yīng)原理。如果一開(kāi)始沒(méi)有正確選擇測(cè)量原理，那么下面的操作就會(huì)一步步出錯(cuò)。